透射电子显微镜（TEM）是一种常用的高分辨率电子显微镜，用于观察样品的微观结构。TEM通过在样品表面扫描聚焦的电子束，并收集通过样品的电子来生成图像。这种技术可以获得非常高的空间分辨率，通常可以达到亚纳米级别。

TEM主要用于观察材料的晶体结构、纳米结构、生物样品和各种纳米材料等。它可以提供关于样品形貌、晶体结构、晶格参数、晶体缺陷、纳米尺度结构等详细的信息。

TEM的工作原理涉及电子束的产生、聚焦、对样品的透射、电子束的检测和图像形成。TEM图像呈现出样品的透射电子密度分布，可以显示出样品内部的微观结构和特征。

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